电子机器の信頼性评価の迅速化に光明~様々な中性子施设で半导体ソフトエラー评価を可能にする技术を开発~

ターゲット
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 自动运転や介护ロボットの実用化が期待される中、コンピュータの中核をなす半导体チップの信頼性确保の重要性が高まっています。一方で、地上には宇宙线が空から降り注いでおり、宇宙线に含まれる中性子によって半导体チップにソフトエラーと呼ばれる事象が生じ、その结果としてコンピュータが误作动を起こすことが知られています。ソフトエラー率は、地上の宇宙线环境を再现する特殊な中性子源を用いた実験で评価する方法が一般的ですが、そのような中性子源は国内で1つ、世界でも5つほどしかなく、年々高まる半导体チップのソフトエラー率评価の需要を満たすには限界がありました。

 そこで、量子アプリ共創コンソーシアム(略称QiSS)の中で橋本昌宜 情报学研究科教授が課題責任者を務める産学連携ソフトエラー研究グループでは、任意の中性子源による1つの測定結果とシミュレーションを組み合わせて地上ソフトエラー率を求める手法を開発しました。また、3施設7種類の中性子源による測定値と放射線挙動解析コードPHITSを用いてソフトエラー率評価を行い、本手法の有効性を実証しました。本手法によって、限られた特殊な中性子源を用いることなく国内外に多数ある一般の中性子源を用いたソフトエラー率評価が可能となり、高まるソフトエラー率評価の需要に応じることができます。これにより、情報化社会を支える安心?安全で信頼できる半導体チップの開発ペースを加速させることが期待されます。

 本研究成果は、2023年5月29日に、国際学術誌「IEEE Transactions on Nuclear Science」にオンライン掲載されました。

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研究者のコメント

「大学、国立研究机関、民间公司が强力な产学连携チームを构成して、产业界の発展につながる研究成果を挙げることができました。一般社団法人量子アプリ社会実装コンソーシアム(略称蚕础厂厂)を通じて、世界标準规格と认められるように研究活动を続けていきます。」

研究者情报
研究者名
橋本 昌宜
书誌情报

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【书誌情报】
Shin-ichiro Abe, Masanori Hashimoto, Wang Liao, Takashi Kato, Hiroaki Asai, Kenichi Shimbo, Hideya Matsuyama, Tatsuhiko Sato, Kazutoshi Kobayashi, Yukinobu Watanabe (2023). A Terrestrial SER Estimation Methodology based on Simulation coupled with One-Time Neutron Irradiation Testing. IEEE Transactions on Nuclear Science, 70(8), 1652-1657.

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